當(dāng)開關(guān)設(shè)備接點間的放電等由感性負(fù)載的通斷以及電子馬達(dá)所產(chǎn)生的電弧放電，從而導(dǎo)致的偶發(fā)性的上升時間極快的高頻噪聲的發(fā)生。
這些噪聲通過電源線直接傳導(dǎo)到電子設(shè)備的內(nèi)部，或是通過附近／并行的信號線以誘導(dǎo)的方式進(jìn)行侵入，耦合到電子設(shè)備的回路或是基板上，產(chǎn)生反射、共振、增強等現(xiàn)象，從而使得電子機器內(nèi)部的IC等出現(xiàn)誤動作。
INS系列就是模擬產(chǎn)生這類噪聲的，用來評價電子設(shè)備的抗擾度性能的試驗器。
INS系列滿足日本的NECA（日本電氣控制工業(yè)會）以及JEMA（日本電機工業(yè)會）等所發(fā)行的幾個不同的標(biāo)準(zhǔn)。
